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전임교수

교수정보의 상세 화면
김상열
이름
김상열
학력
박사
전공
물리학전공(과)
정보
연구실 :
원천관 416

연구실번호 :
2580

이메일 :
sykim@ajou.ac.kr

연구관심분야 :
광학, ellipsometry

홈페이지 :
학력
졸업연도/학교/학위
1987.05 Pennsylvania State Univ 박사
경력 1979 ~ 1982   육군사관학교 교수부 물리학 교관(전임강사) 
1987 ~ 1988   MRL, PSU 연구원, KSEA Central PA 지부장
1988 ~ 현재   아주대학교  조교수, 부교수, 교수
1993 ~ 1994   Univ. of North Carolina 방문교수
1999.8 ~ 1999.11 Ecole Polytechnique 연구교수
1995 ~ 2002, 2006 ~ 2010 한국물리학회 편집위원
1995 ~ 2013.2 한국광학회 학술간사, 이사, 총무이사, 학술이사, 광기술분과위원장, 재정위원장, 부회장, 회장, 선거거관리위원장
2000.7 ~ 현재 (주)엘립소테크놀러지 대표이사
2006. ~  2012 나노소자특화팹 운영자 협의회 특성분과위원장, 감사
2011. ~  현재 광교지식포럼 이사
2001.2 ~ 2001.8 Ecole Polytechnique 연구교수
2013.3 ~ 현재 (주)이미지스테크놀러지 사외이사
논문 및 연구활동
연구활동(주요논문)
  • [논문] 김상열, 단축이방성 배향막이 코팅되어 있는 다층박막시료의 타원식 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.24 , No.5 , pp.271 -278 (Oct, 2013)
  • [논문] 김상열, 박상욱, 양성모, 염경훈, 윤희규, 개선된 투과형 타원계를 사용한 러빙된 Polyimide 배향막의 초미세 위상지연 정밀 측정 , 한국광학회지 , Vol.24 , No.2 , pp.77 -85 (Apr, 2013)
  • [논문] 김상열, 결맞음길이보다 두꺼운 두 개의 막에 덮여있는 시료의 타원식 , 한국광학회지 , Vol.24 , No.2 , pp.92 -98 (Apr, 2013)
  • [논문] 김상열, 김웅기, 서영진, 이민호, 염경훈, 박상욱, 미소면적 광학이방성 정밀 측정을 위한 수직반사형 타원계의 광소자 편광특성 및 측정정밀도 향상 연구 , 한국광학회지 , Vol.23 , No.6 , pp.274 -280 (Dec, 2012)
국제학술논문지
  • [논문] 김상열, 홍세라, 양성모, Optical, Mechanical, and Photoelastic Anisotropy of Biaxially Stretched Polyethylene Terephthalate Films Studied Using Transmission Ellipsometer Equipped with Strain Camera and Stress Gauge , JOURNAL OF POLYMER SCIENCE PART B-POLYMER PHYSICS , pp.152 -160 (Nov, 2018)
  • [논문] 김상열, 홍세라, 양성모, Wavelength dependent in-plane birefringence of transparent flexible films determined by using transmission ellipsometry , JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS , Vol.57 (Apr, 2018)
  • [논문] 김상열, 박상욱, 양성모, 조성용, Ellipsometric Characterization of Rubbed Polyimide Alignment Layer in Relation with Distribution of Liquid Crystal Molecules in Twisted Nematic Cell , CURRENT OPTICS AND PHOTONICS , Vol.2 , No.2 , pp.185 -194 (Apr, 2018)
  • [논문] Pascal Andre, Khalid Marbou, 김혜리, 이광진, Benoit Heinrich, 김상준, Aiko Nakao, Tetsua Aoyama, Seiichi Furukawa, 김은선, Fabrice Mathevet, Stephane Mery, Ifor D. W. Samuel, Amal Al Ghaferi, Marcus S. Dahlem, Masanobu Uchiyama, 김상열, 우정원, Jean-Charles Ribierre, Chihaya Adachi, 김동욱, 김주형, Calvyn T. Howells, Enhanced organic solar cells efficiency through electronic and electro-optic effects resulting from charge transfers in polymer hole transport blends , JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY A , Vol.4 , No.11 , pp.4252 -4263 (Feb, 2016)
  • [논문] 김상열, 최수진, 김혜선, 양성모, In vitro characterization of optical property of mouse myoblast cells by spectroscopic ellipsometry , THIN SOLID FILMS , Vol.571 , pp.468 -472 (Dec, 2014)
  • [논문] 김상열, 김상준, 윤희규, 안성혁, 염경훈, Study of Ultra-Small Optical Anisotropy Profile of Rubbed Polyimide Film by using Transmission Ellipsometry , JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF KOREA , Vol.18 , No.2 , pp.156 -161 (Apr, 2014)
  • [논문] 김상열, 김용기, 류장위, Determination of the Optic Axis Distribution of a Hybridly Aligned Discotic Material for Wide-view Films , JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY , Vol.57 , No.2 , pp.233 -239 (Aug, 2010)
  • [논문] Dohyung Kim, 김상열, Jean-Eric Bouree, Calculation of the field enhancement for a nanotube array and its emission properties , Journal of Applied Physics , Vol.105 (Apr, 2009)
  • [논문] 김상열, 최중규, 심경수, 변영섭, 김수경, 리학철, High-Temperature Complex Refractive Index of Phase Change Recording Medium of Ge2Sb2Te5 Determined Using Phase Change static Tester and spectroscopic Ellipsometer , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.47 , No.7 , pp.5477 -5481 (Jul, 2008)
  • [논문] 김상열, 김도형, 김미경, J.E. Bouree, Calculation of the local electric field for an infinite array of conducting nanosized objects , J. Phys. A , Vol.40 , pp.853 -862 (Jan, 2007)
  • [논문] 김상열, 강윤호, 김기준, 김연화, 노진서, 서동석, 신웅철, 이상목, 안성혁, 김상준, Experimental Setup for in Situ Investigation of Phase Changing Behavior in PRAM Medium by Micro-Focusing Nanosecond Time Resolved Ellipsometry , JJAP , Vol.45 , No.8 , pp.6452 -6454 (Sep, 2006)
  • [논문] 김상열, 이학철, 박상욱, 안성혁, 김상준, Enhanced Readout Signal of Elliptic-Bubble Super Resolution Near Field Structure by Temperature-Dependent Complex Refractive Index of Phase-Change Medium , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.45 , No.2B , pp.1390 -1393 (Feb, 2006)
  • [논문] 김상열, 김도형, J.E. Bouree, Numerical study on the field emission properties of aligned carbon nanotubes using the hybrid field enhancement scheme , Appl. Phys. A , Vol.83 , pp.111 -114 (Jan, 2006)
  • [논문] 김상열, 리학철, 김창일, 안성혁, 오수기, Optical Property of PtOx at Elevated Temperatures Investigated by Ellipsometry , Journal of Japaness Socity of Applied Physics , Vol.44 , No.5B , pp.3623 -3626 (Jun, 2005)
  • [논문] 안성혁, 김종혁, 이학철, 김상열, 김상준, Real-Time Growth Control of Ge-Sb-Te Multilayer Film as Optical Recording Media by In Situ Ellipsometry , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.43 , No.9A , pp.6329 -6334 (Sep, 2004)
  • [논문] 안성혁, 김상준, Xuezhe Li, 김상열, Irreversible optical properties of AgOx mask layer with temperature for super-resolution near-field structure application , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.43 , No.7B , pp.5014 -5017 (Jul, 2004)
  • [논문] 김상열, 안성혁, 김상준, 박영동, Observation of the cascaded phase transformation of Ge-Sb-Te alloy at elevated temperature by using nanosecond time resolved ellipsometry , Thin Solid Films , Vol.455 , pp.675 -678 (May, 2004)
  • [논문] 김상열, Y.S. Yu, Z.F. Liu, F.K. shan, G.X. Liu, T.S. Kim, B.C. Shin, Spectroscopic Ellipsometry Characterization of Al-Doped ZnO thin films Deposited by Pulsed Laser Deposition , Journal of the Korean Physical Society , Vol.44 , No.5 , pp.1215 -1219 (May, 2004)
  • [논문] 김상열, Optical Properties and Phase Transformation Kinetics of Ge-Sb-Te-(N) Alloy Thin films Investigated by Ellipsometry , MRS , Vol.803 , pp.137 -148 (Apr, 2004)
  • [논문] 안성혁, 이학철, 김상열, Optimum Growth Conditions of Ge-Sb-Te Alloy Thin Film Investigated by Ellipsometry , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.43 , No.3 , pp.1006 -1012 (Mar, 2004)
  • [논문] 김상열, 김상준, 김도형, 안성혁, Ellipsometric Simulation and Preliminary Observation of Fast Crystalization Behavior of Ge2Sb2Te5 Amorphous Thin Films at Elavated Temperature , Jap. J. Applied Physics , Vol.42 , No.8 , pp.5107 -5112 (Aug, 2003)
  • [논문] 김상열, R. Vanderhagen, V. Chu, S. Kasouit, 이윤우, 조현모, 김현종, J.Conde, ㅓ.J. Kleider, Non-invasive electrical characterization of semiconductor interfaces , Materials Science and Engineering , pp.156 -160 (Feb, 2003)
  • [논문] 안성혁, 김도형, 김상열, New Crystallization Kinetics of Phase Change Ge2Sb2Te5 at Moderately Elevated Temperature , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.41 , No.12 , pp.7400 -7401 (Dec, 2002)
  • [논문] 김상열, E. Garcia-Caurel, C. Niikura, B. Drevillon, J.E. Bouree, FTIR phase-modulated ellipsometry measurement of microcrystalline silicon films deposited by hot-wire CVD , J. Non-Crystalline Solids , Vol.299 , pp.215 -219 (Oct, 2002)
  • [논문] 김상열, C. Niikura, P. Roca Cabarrocas, Y. Poissant, B. Drevillon, J.E. Bouree, Growth mechanisms and structural properties of microcrystalline silicon films deposited by catalitic CVD , Thin Solid Films , Vol.395 , pp.178 -185 (Sep, 2001)
  • [논문] 김상열, 이윤우, 김현종, 이확주, 조용재, 조현모, 김병윤, 이인원, Comparison of the effective oxide thickness determined by ellipsometry with the result by medium energy ion scattering spectroscopy and high-resolution transmission electron microscopy , J. Vac. Sci. Technol. , Vol.19 , No.4 , pp.1144 -1149 (Jul, 2001)
  • [논문] 김상열, 최승민, 김상준, 이광열, 서훈, 정태희, Study of oxygen-doped GeSbTe film and its effect as an interface layer on the recording properties in the blue wavelength , JJAP , Vol.40 , No.3B , pp.1609 -1612 (Mar, 2001)
  • [논문] 김상열, 박영동, 김상준, 서훈, 정태희, 나상무, 임한조, Spectro-Ellipsometry Investigation of Cascaded Crystallization Behavior of Phase-Change Ge-Sb-Te Alloy , Jap. J. Appl. Phys. , Vol.40 , No.3B , pp.1575 -1577 (Mar, 2001)
  • [논문] 김상열, 김상준, 전경훈, 임굉수, Optical evidence of amorphous-network change in the initial-growth stage a-Si:H , Journal of Non-Crystalline Solids , Vol.275 , pp.59 -64 (Sep, 2000)
  • [논문] 김상열, 김상준, 연 정, 정태희, 박정우, 서 훈, Investigation of Crystallization Behavior of Sputter-Deposited Nitrogen-Doped Amorphous Ge2Sb2Te5 Thin Films , Jpn. J. Appl. Phys. , Vol.39 , No.2B , pp.745 -751 (Feb, 2000)
  • [논문] 김상열, 주한용, 김상준, 김형준, The Optical and structural properties of AlN thin films characterized by spectroscopic ellipsometry , Thin Solid Films , pp.1 -7 (Feb, 2000)
  • [논문] 모선일, 김영태, 김민수, 최연익, 김경구, 김상열, 원영희, In-situ Monitoring of Anodic Oxidation of p-type Si(100) by Electrochemical Impedance Techniques in Nonaqueous and Aqueous Solutions , Bulletin , Vol.20 , No.9 , pp.1049 -1055 (Sep, 1999)
  • [논문] 김상열, 김상준, 정태희, 김명룡, 서훈, Crystallization behavior of sputter-deposited amorphous Ge2Sb2Te5 thin films , J. Appl. Phy. , Vol.86 , No.2 , pp.774 -778 (Jul, 1999)
  • [논문] 김상열, 김상준, 주한용, 김형준, Spectrophotometric analysis of aluminum nitride thin films , J. Vac. Sci. Technol. A , Vol.17 , No.3 , pp.862 -870 (May, 1999)
  • [논문] 김상열, 주종량, 관용천, 정동근, 김상준, Optical properties of polymer-like organic thin films deposited by plasma-enhanced chemical vapor deposition using toluene as the precursor , Jap. J. Appl. Phys. , Vol.38 , pp.2150 -2151 (Apr, 1999)
  • [논문] 김상열, 서훈, 김상준, 김명룡, Complex Refractive Indices of GeSbTe-Alloy Thin Films:Effect of Nitrogen Doping and Wavelength Dependence , Japanese Journal of Applied Physics , Vol.38 , pp.1713 -1714 (Mar, 1999)
  • [논문] 김상열, 조현모, 조용재, 이윤우, 이인원, Ellipsometric examination of optical property of the Si-SiO2 interface using the s-wave antireflection , J. of Appl. Phys. , Vol.85 , No.2 , pp.1114 -1119 (Jan, 1999)
  • [논문] 김상열, 서 훈, 김상준, 김명룡, Variation of the complex refractive indices with Sb-addition in Ge-Sb-Te alloy and their wavelength dependence , SPIE , Vol.3401 , pp.112 -115 (May, 1998)
  • [논문] 김상열, In Won Lee, Yun Woo Lee, 김 상준, Yong Jai Cho, Ho Kyoon Chung, Hoi Youn Lee, Jun Woo Sun, Sang Kil Lee, Sang Young Moon, Hyun Mo Cho, 방 현용, Optical Characterization of silicon dioxide layers grown on silicon under different growth conditions , Thin Solid Films , Vol.313-314 , pp.292 -297 (Feb, 1998)
  • [논문] 김상열, Chun-Yeol You, Sung-Chul Shin, Modified effective-medium theory for magneto-optical spectra of magnetic materials , APS , Vol.55 , No.9 , pp.5953 -5958 (Mar, 1997)
  • [논문] 장성우, 김상열, In-situ Elliprometer를 사용한 Au박막의 초기성장 연구 , 새물리 , Vol.36 , No.1 , pp.78 -83 (Feb, 1996)
  • [논문] H.G.Lee, 김상열, Measurement of the Polar Magneto-optical Kerr Effect using a Polarimetric Method , Proceedings , Vol.2873 , pp.45 -49 (Jan, 1996)
  • [논문] 김상열, J.W.Shin, J.H.Moon, J.W.Park, Formation of Aminosilane Thin Layers:An Imine Formation to Measure Relative Surface Density of the Amine Group , Langmuir , Vol.12 , No.20 , pp.4621 -4624 (Jan, 1996)
  • [논문] 김상열, Simultaneous dermination of refactive index, extinction coefficient and void distribution of titanium dioxide thin film using optical methods , Applied Optics , Vol.35 , No.34 , pp.6703 -6707 (Jan, 1996)
  • [논문] 김상열, H.J.Kim, Observation of micro-structure and optical properties od titanium dioxide thin films using optical methods , Kor.Inst.Sur..Eng,Sur.Finish Soc.jap (Jan, 1996)
  • [논문] 김상열, H.J.Kim, Y.W.Lee, H.M.Cho, Determinatio of micro-structure related optical constants of titanium dioxide thin films using optical methods , SPIE , Vol.2873 , pp.234 -237 (Jan, 1996)
  • [논문] 김상열, E.A.Irene, An evaluation of errors in determining refractive index and thickness of thin SiO2 films using a rotating analyzer ellipsmeter , Rev.Sci.Instrum , Vol.66 , No.11 (Nov, 1995)
  • [논문] 김상열, L.Spanons, E.A.Irene, Post-calibration correction for a rotating analyzer ellipsometer with an Optical Fiber Bundle Detection System , J. Korean Phys. Soc , Vol.28 , No.4 , pp.420 -425 (Aug, 1995)
  • [논문] 김상열, 윤종걸, 권숙일, Characterization of ferroelectric LiNbO3 thin film prepared by sol-gel process , Ferroelectircs , Vol.152 , pp.207 -212 (Mar, 1994)
  • [논문] 김상열, Numerical calculation of ellipsometer spectra of layers with arbitarary refractive index profiles , Optical Engineering , Vol.32 , No.1 (Mar, 1993)
국내학술논문지
  • [논문] 김상열, 정렬된 단축이방성 분자들의 질서변수와 상대 복굴절간 준선형 관계식의 보편성 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.28 , No.1 , pp.33 -38 (Feb, 2017)
  • [논문] 김상열, 수치해석적인 방법으로 규명한 정렬된 단축이방성 분자들의 질서변수와 상대 복굴절의 준선형 관계식 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.27 , No.6 , pp.223 -228 (Dec, 2016)
  • [논문] 김상열, 단축 이방성 박막들이 코팅된 시료의 타원식 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.26 , No.5 , pp.275 -282 (Oct, 2015)
  • [논문] 김상열, 이민호, 양성모, 박상욱, 이제현, 박민수, 반사형 타원계를 이용한 러빙된 Polyimide 배향막의 초미세 광학 이방성 정밀 측정 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.26 , No.4 , pp.195 -202 (Aug, 2015)
  • [논문] 김상열, 두개의 단축이방성 박막이 있는 다층박막 시료의 타원식 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.26 , No.2 , pp.115 -120 (Apr, 2015)
  • [논문] 김상열, 단축이방성 배향막이 코팅되어 있는 다층박막시료의 타원식 , 한국광학회지(KOREAN JOURNAL OF OPTICS AND PHOTONICS) , Vol.24 , No.5 , pp.271 -278 (Oct, 2013)
  • [논문] 김상열, 박상욱, 양성모, 염경훈, 윤희규, 개선된 투과형 타원계를 사용한 러빙된 Polyimide 배향막의 초미세 위상지연 정밀 측정 , 한국광학회지 , Vol.24 , No.2 , pp.77 -85 (Apr, 2013)
  • [논문] 김상열, 결맞음길이보다 두꺼운 두 개의 막에 덮여있는 시료의 타원식 , 한국광학회지 , Vol.24 , No.2 , pp.92 -98 (Apr, 2013)
  • [논문] 김상열, 김웅기, 서영진, 이민호, 염경훈, 박상욱, 미소면적 광학이방성 정밀 측정을 위한 수직반사형 타원계의 광소자 편광특성 및 측정정밀도 향상 연구 , 한국광학회지 , Vol.23 , No.6 , pp.274 -280 (Dec, 2012)
  • [논문] 김상열, 박상욱, 서영진, 양성모, 반투명 기층에 의한 후면반사를 고려한 회전검광자 방식의 타원측정 및 분석 , 한국광학회지 , Vol.22 , No.4 , pp.170 -178 (Aug, 2011)
  • [논문] 김상열, 김용기, 류장위, 비균일 단축 이방성 매질을 투과하는 빛의 편광상태 변화 표현 , 한국광학회지 , Vol.21 , No.4 , pp.161 -167 (Aug, 2010)
  • [논문] 김상열, 김하랑, 패턴이 있는 유리기층위 러빙된 Polyimide의 광학 이방성 미세변화 정밀 측정 , 한국광학회지 , Vol.20 , No.5 , pp.281 -287 (Oct, 2009)
  • [논문] 김상열, 류장위, 투과형 타원법을 이용한 중첩된 광학이방성 막의 유효 광축 및 등가 리타데이션 해석 , 한국광학회지 , Vol.20 , No.5 , pp.288 -293 (Oct, 2009)
  • [논문] 김상열, 류장위, 김용기, 액정 디스플레이 시야각 향상을 위한 복합판의 편광특성 분석 , 한국광학회지 , Vol.20 , No.4 , pp.241 -248 (Aug, 2009)
  • [논문] 김상열, 박상욱, 최중규, 조용재, 조현모, 심우영, 이광, 제갈원, 영상 타원법을 이용한 인간 줄기세포의 굴절률과 두께 분포 연구 , 한국광학회지 , Vol.20 , No.1 , pp.53 -56 (Feb, 2009)
  • [논문] 김상열, 신유식, 류장위, 안성혁, 김용기, 이방성 매질의 편광투과특성 분석을 위한 확장된 존스 행렬식의 개선 , 한국광학회지 , Vol.19 , No.2 , pp.150 -158 (Apr, 2008)
  • [논문] 김상열, 리학철, 김수경, 이재흔, 최중규, 류장위, 변영섭, 초해상 광기록 Ge2Sb2Te5 박막의 고온광물성 연구 , 한국광학회지 , Vol.18 , No.5 , pp.351 -361 (Oct, 2007)
  • [논문] 안성혁, 김상준, 김상열, 편광법을 이용한 LCD 편광판과 보상판의 광축 정렬오차 측정 , 한국광학회지 , Vol.15 , No.6 , pp.527 -530 (Dec, 2004)
  • [논문] 김상열, 신상균, 최용규, 김상준, 박봉제, 서홍석, 분광타원법을 이용한 Pr 첨가 Ge-Sb-Se 계열 셀레나이드 유리의 굴절률 결정 , 한국광학회지 , Vol.14 , No.6 , pp.594 -599 (Dec, 2003)
  • [논문] 김상열, 윤희삼, 분광타원법을 이용한 PDP용 ITO 박막의 패턴 분석 , 한국광학회지 , Vol.14 , No.3 , pp.272 -278 (Jun, 2003)
  • [논문] 김상열, 김상준, 굴절률 분산을 반영한 고속 푸리에 변환 및 막두께 정밀결정 , 한국광학회지 , Vol.14 , No.3 , pp.266 -271 (Jun, 2003)
  • [논문] 김상열, 이학철, In situ 타원법을 사용한 광기록매체용 Ge-sb-Te 박막의 최적성장조건 연구 , 한국광학회지 , Vol.14 , No.1 , pp.23 -32 (Feb, 2003)
  • [논문] 원영희, 이황운, 김준수, 김상열, 이종하, 펄스 corona 배향된 비선형광학 고분자박막의 제2 고주파 발생 , 한국 광학회지 , Vol.13 , No.4 , pp.356 -362 (Aug, 2002)
  • [논문] 김상열, 리학철, 김상준, 김종혁, 안성혁, 원영희, In situ elipsometry를 사용한 광기록매체용 Ge-Sb-Te 다층박막성장의 실시간 제어 , 한국광학회지 , Vol.13 , No.3 , pp.215 -222 (Jun, 2002)
  • [논문] 김상열, 정혜인, 류장위, 김동현, 가변입사각 분광타원법을 이용한 유기 발광 박막의 광학상수 및 두께 결정 , 한국광학회지 , Vol.12 , No.6 , pp.472 -478 (Dec, 2001)
  • [논문] 김상열, 김도형, 김상준, 안성혁, 광기록매체용 Ge-Sb-Te 다층 박막의 광학적 특성 및 열전달 특성 , 한국광학회지 , Vol.12 , No.5 , pp.394 -400 (Oct, 2001)
  • [논문] 김상열, 김우한, 김도형, 안성혁, Levenberg-Marquardt 알고리즘을 적용한 지진파 진원 결정 , 새물리 , Vol.43 , No.3 , pp.187 -191 (Sep, 2001)
  • [논문] 김상열, 김상준, Division-of-Amplitude-Photopolarimeter를 이용한 초고속 타원계의 설계 , 한국광학회지 , Vol.12 , No.3 , pp.184 -189 (Jun, 2001)
  • [논문] 김상열, 김상준, DOAP을 이용한 초고속 타원계의 개발 , 한국광학회 2001년도 동계학술발표회 , pp.260 -261 (Mar, 2001)
  • [논문] 김상열, 김상준, 길현옥, 방현용, 코로나 극성배향이 비선형 고분자박막의 복소굴절율에 미치는 영향 및 배향효과의 정량화 , 한국광학회지 , Vol.10 , No.3 , pp.181 -187 (Jun, 1999)
  • [논문] 김상열, 김현종, 조용재, 조현모, 이윤우, 이인원, 분광 타원해석기 입사각의 정밀 보정 , 한국광학회지 , Vol.10 , No.3 , pp.208 -213 (Jun, 1999)
  • [논문] 김상열, 이현곤, 김용기, 원영희, 이민원, Simple polarimetric method for electro-optic coefficients , 한국광학회지 , Vol.3 , No.1 , pp.23 -26 (Mar, 1999)
  • [논문] 김상열, 방현용, 고속분광타원해석기의 제작 및 양극산화 이산화규소 박막 성장의 in situ 실시간 분석 , 새물리 , Vol.38 , No.5 , pp.350 -359 (Oct, 1998)
  • [논문] 김상열, 방현용, 고속 분광타원해석기의 제작 및 양극산화 이산화규소 박막 성장의 in situ 실시간 분석 , 새물리 , Vol.38 , No.5 , pp.350 -359 (Oct, 1998)
  • [논문] 김상열, 정태희, 박정우, 서훈, 김상준, 분광타원해석법을 이용한 Ge2Sb2Te5의 복소굴절율 결정 , 한국광학회 , Vol.8 , No.6 , pp.445 -449 (Dec, 1997)
  • [논문] 김상열, 방현용, 이상현, 김상준, 김성영, 김성화, PECVD 방법으로 성장시킨 DLC박막의 복소굴절율 및 성장조건에 따른 박막상수 변화 , 한국광학회지 , Vol.8 , No.4 , pp.277 -282 (Aug, 1997)
  • [논문] 김상열, 김현종, 방현용, 광학적 방법에 의한 이산화 티타늄 박막의 굴절율,소광계수 결정 및 증착방법에 따른 조밀도 변화 , 한국물리학회지 (Feb, 1997)
  • [논문] 김상열, 방현용, 김현종, 광학적 방법에 의한 이산화티타늄 박막의 굴절율, 소광계수 결정 및 증착방법에 따른 조밀도 변화 , 한국물리학회 , Vol.37 , No.1 , pp.45 -52 (Feb, 1997)
  • [논문] 김상열, 방현용, 김병익, 김현종, 가변입사각 타원해석법을 사용한 유리기판 위의 이산화 규소의 굴절율 및 두께 결정 , 한국광학회지 (Feb, 1997)
  • [논문] 김상열, MNA/PMMA 고분자 박막의 복소굴절율 및 구께 결정 , 한국광학회지 , Vol.7 , No.4 , pp.357 -362 (Mar, 1996)
  • [논문] 김상열, 이종하, 김용기, Guest-host 고분자계의2차조화판 발생에 미치는 Corona Poling효과 , 응용물리학회 , Vol.9 , No.6 , pp.700 -704 (Jan, 1996)
  • [논문] 유천열, 김상열, 자성체의 자기광학 빛띠 해석을 위한 확장된 유효매질 이론 , 새물리 , Vol.36 , No.5 , pp.525 -531 (Jan, 1996)
  • [논문] 김상열, 최성숙, 무반사 렌즈용 다층박막의 광학적 구조 및 광투과 특성 , 한국광학회 , Vol.6 , No.4 (Dec, 1995)
  • [논문] 김상열, 신용환, OMA를 이용한 고속 분광타원해석기의 제작과 실리콘 산화막의 분석 , 새물리 , Vol.35 , No.4 , pp.501 -507 (Aug, 1995)
  • [논문] 김상열, 구교근, 고속분광 타원해석기를 사용한 Si(III) 자연산화막 성장의in-suti 분석 , 새물리 , Vol.35 , No.4 , pp.508 -512 (Aug, 1995)
  • [논문] 이창희, 김상열, 분광타원해석법에 의한 이온주입된 실리콘의 열처리효과분석 , 새물리 , Vol.34 , No.6 , pp.682 -689 (Dec, 1994)
  • [논문] 김상열, 용정수, 구교근, RF스퍼터링으로 제작한 ZnS박막의 분광타원해석분석 , 새물리 , Vol.34 , No.6 , pp.690 -699 (Dec, 1994)
  • [논문] 김상열, 이창희, 안희정, 분광 타원해석법에 의한 이온 주입된 실리콘의 비정질화 연구 , 새물리 , Vol.34 , No.5 (Oct, 1994)
  • [논문] 김상열, 신용환, 박광범, 구교근, 스퍼터링 챔버에 설치한 in-situ 타원해석기의 성능평가 , 한국진공학회지 , Vol.3 , No.2 , pp.166 -172 (Jun, 1994)
  • [논문] 김상열, 김도한, 윤종걸, Sol-gel 방법에 의해 조성된 LiNbO3/Si박막계의 분광타원해석 , 새물리 , Vol.33 , No.6 , pp.700 -705 (Dec, 1993)
  • [논문] 허근무, 김상열, 질소 ECR플라즈마에 노출된 Al박막의 분광타원 해석 , 한국진공학회지 , Vol.2 , No.1 , pp.92 -98 (Mar, 1993)
국제학술발표
  • [학술회의] 김상열, 홍세라, 양성모, Optical, Mechanical and Photo-elastic Anisotropy of Biaxially Stretched PET Films Studied by Using Transmission Ellipsometer Equipped with Strain Camera and Stress Gauge , ICCG 2018-Conference on Coatings on Glass and Plastics (Jun, 2018)
  • [학술회의] 김상열, 홍세라, 양성모, Wavelength Dependent Stress-Optic Coefficients of Transparent Flexible Films and their Anisotropic Behaviours Determined by Using a Transmission Spectroscopic Ellipsometer Equipped with a Push-pull Stand and a Stress Gauge , 8th International Conference on Flexible Printed Electronics (Sep, 2017)
  • [학술회의] 김상열, 양성모, 홍세라, Fabrication of Imaging DOAP for Tension Distribution of Flexible Substrate in Real Time , 8th International Conference on Flexible Printed Electronics 2017 (Sep, 2017)
  • [학술회의] 김상열, 홍세라, 양성모, Wavelength dependent in-plane birefringence of transparent flexible substrates determined by using transmission spectroscopic ellipsometer , 8th International Conference on Flexible Printed Electronics 2017 (Sep, 2017)
  • [학술회의] 김상열, 양성모, 박상욱, 조성용, Ellipsometric Characterization of the Surface of Rubbed Polyimide and Distribution of Liquid Crystal Molecules in TN Cells , The 23rd International Display Workshops in Conjunction with Asia Display 2016 , Vol.23 , pp.159 -161 (Dec, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 박상욱, 조성용, Surface Anisotropy of Rubbed PI and Distribution of LC Molecules in TN Cell Characterized by Using Ellipsometry , International Symposium on Optomechanic Technology 2016 (Nov, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 양성모, 박상욱, 조성용, Distribution of Liquid Crystal Molecules in Relation with the Surface Anisotropy of Rubbed Polyimide Alignment Layer Characterized by Using Ellipsometry , The 16th International Meeting on Information Display (IMID 2016) , pp.467 -467 (Aug, 2016)
  • [학술회의] 김상열, Ellipsometric Characterization of Anisotropy in LCD: From the Surface of Rubbed PI to Distribution of LC Molecules in TN Cell , 12th Workshop in Polarimetry Measurement , pp.22 -23 (Jul, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 박상욱, 조성용, Quantitative Characterization of Optical Anisotropy of Rubbed Polyimide Alignment Layers in Relation with Distribution of Liquid Crystal Molecules Using an Improved Reflection Ellipsometer , 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry , pp.322 -322 (Jun, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 양성모, Design of Anisotropy Scanning Polarimeter for Real-time Monitoring of Tension Distribution in Flexible Substrate Using Imaging DOAP , 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry , pp.205 -205 (Jun, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 양성모, 박상욱, 박민수, Quantitative Characterization of Uniaxial Anisotropy of Rubbed Polyimide Alignment Layer Using Reflection Ellipsometry , The 22nd International Display Workshops , Vol.22 , pp.68 -69 (Dec, 2015)
  • [학술회의] 김상열, 박상욱, 박민수, Characterization of Anisotropy Profile of Rubbed Polyimide Alignment Layer Using Reflection Ellipsometry , IMID 2015 , pp.210 -210 (Aug, 2015)
  • [학술회의] 김상열, 김혜선, S.H.Kim, 문대원, 제갈원, 양성모, 최수진, In vitro determination of refractive index of an alive cell and study of cell adhesion characteristics by using ellipsometry , The 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry , pp.152 -152 (May, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 윤희규, 김상준, 염경훈, Study on Ultra-Small Optical Anisotropy Profile of LCD Alignment Layer by Using Transmission Ellipsometry , The 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry , pp.102 -102 (May, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 김상준, 염경훈, 윤희규, 투과형 타원계를 사용한 LCD 배향막의 초미세 광학이방성 프로파일 측정 및 분석 , 한국광학회 2013년도 동계학술발표회 , pp.591 -592 (Feb, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 이민호, 김상준, 투과형 영상 타원법을 사용한 2차원 위상차의 정량화 , 한국광학회 2013년도 동계학술발표회 , pp.337 -338 (Feb, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 윤희규, 염경훈, 박상욱, Precise Measurement of Ultra Small Optical Anisotropy and Substrate Effect to LCD Alignment Layer versus Rubbing Strength by Using Transmission Ellipsometry , IMID 2011 (Oct, 2011)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 신유식, 김용기, Precise Measurement of Very Low Retardation by Using Transmission Ellipsometry , ITE, SID , pp.51 -54 (Dec, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 신유식, 김용기, Extensive Study on Optical Anisotropy and its Non-Uniformity of Wide View Film , ITE, SID , pp.379 -382 (Dec, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 신유식, 김용기, analysis of orientation distribution of liquid crystal by analyzing polarization state dependency on viewing angle , ILCC 2008 , pp.970 -970 (Jun, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 김수경, 최중규, 김경수, 변영섭, 이학철, High temperature complex refractive index of phase change recording medium determined by using phase change static tester and spectroscopic ellipsometer , International Conference of Spectroscopic Ellipsometer-4 , pp.276 -276 (Jun, 2007)
  • [학술회의] 김상열, 신유식, 류장위, 안성혁, 김상준, Simultaneous measurements of retardation and off-alignment angle for compensating polarizer by using the polarimetry , International Conference of Spectroscopic Ellipsometer-4 , pp.133 -133 (Jun, 2007)
  • [학술회의] 김상열, 심경수, 변영섭, 김수경, 안성혁, 리학철, Optical Properties of Optical Recording Medium Investigated by PRAM static Tester and Spectroscopic Ellipsometer , NANO KOREA 2006 , pp.249 -249 (Aug, 2006)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 안성혁, Development of polarization controlled micro transmittance profiler , 2005 International Meeting on Information Display , Vol.2 , No.1 , pp.998 -1000 (Jul, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 이학철, 박상욱, 안성혁, 김상준, Enhanced readout signal of elliptic bulled super-RENS by temperature dependent complex refractive index of phase change medium , 2005 International Symposium on Optical Memory and Optical Data Storage , Vol.1 , No.1 (Jul, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 김연화, 안성혁, Experimental setup for in situ investigation of phase changing behavior in PRAM medium by micro-focusing nanosecond time resolved ellipsometry , 2005 International Symposium on Optical Memory and Optical Data Storage , Vol.1 , No.1 (Jul, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 김창일, 리학철, 안성혁, Optical investigation of decomposition process of AgOx mask layer for spuer-RENS application , Photonics Asia , pp.142 -142 (Nov, 2004)
  • [학술회의] 김상열, 리학철, 김창일, 안성혁, 오수기, Optical property of PtOx thin films at elevated temperature by using ellipsometry , Int. Symposium on Optical Memory , pp.154 -155 (Oct, 2004)
  • [학술회의] 김상열, Investigation of Optical Property and Phase Transformation Kinetics of Ge-Sb-Te-(N) Alloy Thin Films by using Ellipsometry , 2003 MRS Fall Meeting , pp.290 (Dec, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 리학철, 김상준, Irreversible Optical Properties of AgOx Mask Layer for Super-RENS Application Investigated by in situ, ex situ Ellipsometry , ISOM 2003 Technical Digest , pp.136 -137 (Nov, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조용재, 조현모, 이윤우, 이인원, Spectroscopic ellipsometry characterization of thin aluminum oxide films on si , 3rd international conference on spectroscopic ellipsometry (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, Observation of the cascaded phase transformation fo Ge-Sb-Te alloy using time resolved ellipsometry , 3rd international conference on spectroscopic ellipsometry (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조용재, 조현모, 이윤우, 이인원, Optical properties of oxynitride gate dielectric films observed by spectroscopic ellipsometry , 3rd international conference on spectroscopic ellipsometry (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 이동원, 고대홍, 남수현, 조용재, 김현종, Determination of optical properties of hafnium oxide thin films using vacuum ultraviolet spectroscopic ellipsometry , 3rd international conference on spectroscopic ellipsometry (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 조경수, 권영민, 문창선, 조용재, 김현종, optical properties of silicon oxynitride thin films determined by vacuum ultraviolet spectroscopic ellipsometry , 2003 Int. Conf. of Characterization and Metrology (Mar, 2003)
  • [학술회의] 김상열, J.E. Bouree, C. Niikura, B. Drevillon, Growth mechanism and structural properties of microcrystallline silicon films deposited by Catalytic CVD , Ext. Abst. of 1st Int. Conf. Cat-CVD , pp.283 -286 (Nov, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 박영동, 김상준, 서훈, 정태희, 나상무, 임한조, Spectroellipsometry Investigations of Cascaded Crystallization Behavior of Phase Change Ge-Sb-Te Alloy 외 1편 , International Symposium on Optical Memory 2000 , pp.144 -145 (Sep, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 정태희, 서 훈, 김상준, 박정우, Study of Oxygen-Doped GeSbTe Film and its Effect of an Interface Layer on the Recording Properties in the Blue Wavelength , International Symposium on Optical Memory 2000 , pp.116 -117 (Sep, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 정태희, 서 훈, 김상준, 박정우, Zn as a candidate material for masking layer in the super-resolution phase-change optical dics application , Optical Data Storage (May, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 정태희, 박정우, 서훈, Zn as a candidate material for the masking layer in the super resolution phase-change optical disc application , Optical Data Storage , Vol.2000 (May, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 연정, 정태희, 박정우, 서훈, Optical characterization of surface oxide in Ge-Sb-Te alloy films , CLEO/PR '99 , pp.43 (Aug, 1999)
  • [학술회의] 임한조, Cheong Yeon, 김상준, Jeong-Woo Park, 이동철, 장태희, 김상열, Hun Seo, Investigation of crystallization behavior of sputter-deposited nitrogen-doped a-Ge2Sb2Te3 thin films , International Symposium on Optical Memory , Vol.3864 , pp.116 -119 (Jul, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 서훈, 김상준, 김명룡, Complex Refractive Indices of Ge-Sb-Te Alloy Films:Variation with Nitrogen Addition and Wavelength Dependence , International Symposium on Optical Memory 1988 , pp.200 -201 (Oct, 1998)
  • [학술회의] 김상열, 서 훈, 김상준, 김명룡, Variation of the Complex Refractive Indices with Sb-Addition in Ge-Sb-Te Alloy and Their Wavelength Dependence , Optical Data Storage , Vol.8 , pp.154 -156 (May, 1998)
  • [학술회의] 김상열, I.W. Lee, S.Y. Moon, Y.W. Lee, H.K. Junk, S.G. Lee, H.M. Cho, Y.J. Cho, Development of highly accurate ellipsometer , SPIE , Vol.42 (Jul, 1997)
  • [학술회의] 김상열, I.W. Lee, Y.J. Cho, S.Y. Moon, J.W. Sun, K.H. Jung, S.G. Lee, H.M. Cho, H.Y. Lee, Optical Characterization of Silicon Dioxide Layers Grown on Silicon under Different Growth Conditions , ICSE (May, 1997)
  • [학술회의] H.G.Lee, 김상열, A simple polarimetric method for magneto-optical measurement using a rotating analyzer , Proceedings of International Workshop on Spectroscopic Ellipsometry (Dec, 1996)
  • [학술회의] 김상열, H.J.Kim, Determination of complex refractive index and packing density variation of TiO2 thin films using optical methods , proceedings of international Workshop on Spectroscopic Ellipsometry (Dec, 1996)
  • [학술회의] 김상열, H.J.Kim, Observation of micro-structure and optical properties of titanium dioxide thin films using optical methods , The 2nd korea-Japan Sympisium on Plasma and Thin Film Technology (Oct, 1996)
국내학술발표
  • [학술회의] 김상열, 홍세라, 양성모, Determination of Wavelength-dependent Principal Dielectric Constant of Flexible Substrates using Transmission Spectroscopic Ellipsometry , 한국광학회 2019년도 동계학술발표회 , pp.230 -230 (Feb, 2019)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 이민호, 조성용, 편광자 연속회전 광량측정법과 Incomplete Fourier Transformation을 적용한 실시간 분광타원계의 개발 , 한국광학회 2019년도 동계학술발표회 , pp.229 -229 (Feb, 2019)
  • [학술회의] 김상열, 양성모, 홍세라, 선형주사식 진폭분할 편광계를 이용한 인장응력이 가해진 유연기판의 이방성 분포 측정 , 한국광학회 2019년도 동계학술발표회 , pp.51 -51 (Feb, 2019)
  • [학술회의] 김상열, 홍세라, 양성모, Characterization of Photo-elastic Anisotropy of PET film Using Transmission Spectroscopic Ellipsometry , 2018 한국광학회 하계학술발표회 , pp.222 -222 (Aug, 2018)
  • [학술회의] 김상열, 타원법을 이용한 LCD 분석 : 러빙된 Polyimide의 표면이방성과 TN 셀 내 액정의 분 , 2018 한국광학회 하계학술발표회 , pp.125 -125 (Aug, 2018)
  • [학술회의] 김상열, 홍세라, 양성모, 분광타원법을 이용한 PET 필름의 광탄성 계수 및 잔류 응력 해석 , 제28회 한국광학회 정기총회 및 2017동계학술발표회 (Feb, 2017)
  • [학술회의] 김상열, 양성모, 박상욱, 조성용, 러빙된 폴리이미드 배향막의 광학 이방성에 따른 비틀린 네마틱 액정 셀내의 액정분자 분포 특성 관찰 , The 18th Korea Liquid Crystal Conference , pp.22 -22 (Jan, 2017)
  • [학술회의] 김상열, 박상욱, 조성용, 박민수, 양성모, 반사형 타원계를 이용한 Polyimide 배향막의 광학이방성 정량분석 , 한국광학회 제27회 정기총회 및 2016년도 동계학술대회 , pp.297 -298 (Jan, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 조원준, 권용현, 박민수, 김상준, 박상욱, Precise Measurement and Quantitative Analysis of Ultra Small Optical Anisotropy of Rubbed Polyimide Alignment Layers , 17th Korea Liquid Crystal Conference , Vol.17 , pp.13 -16 (Jan, 2016)
  • [학술회의] 김상열, 박상욱, 초미세 광학이방성 측정에 기초한 배향막 평가 , 한국광학회 2015년도 하계학술발표회 , pp.381 -382 (Jul, 2015)
  • [학술회의] 김상열, 박민수, 이민호, 김상준, 박상욱, 이제현, 윤희규, Anisotropy of Rubbed Polyimide Alignment Layer Investigated by Using Reflection Ellipsometry , 제16회 한국액정 학술대회 , pp.14 -16 (Jan, 2014)
  • [학술회의] 김상열, 최수진, 김혜선, 양성모, 분광타원법을 이용한 살아 있는 세포의 굴절률 in vitro 결정법 , 한국광학회 2013년도 하계학술발표회 , pp.524 -525 (Jul, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 이민호, 박상욱, 이강용, 김상준, 반사형 타원법을 사용한 LCD 배향막의 초미세 광학이방성 측정 , 한국광학회 2013년도 하계학술발표회 , pp.398 -399 (Jul, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 윤희규, 염경훈, 투과형 타원계를 사용한 LCD 배향막의 초미세 광학이방성 프로파일 분석 , 한국광학회 2013년도 하계학술발표회 , pp.394 -395 (Jul, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 박상욱, 새로운 Grid Search 계산방식을 사용한 타원법 모델링 분석 속도 향상 , 한국광학회 2013년도 하계학술발표회 , pp.15 -16 (Jul, 2013)
  • [학술회의] 김상열, 김웅기, 서영진, 이민호, 염경훈, 박상욱, 미소면적 광학이방성 측정을 위한 수직반사형 타원계의 광소자 편광특성 제어 및 측정정밀도 향상 , 한국광학회 2012년도 하계학술발표회 , pp.433 -434 (Aug, 2012)
  • [학술회의] 김상열, 문대원, 김세화, 양성모, 제갈원, 분광 영상 타원법을 이용한 세포 부착 특성과 광학물성 연구 , 한국광학회 2012년도 하계학술발표회 , pp.437 -438 (Aug, 2012)
  • [학술회의] 김상열, 이민호, 서영진, 염경훈, 박상욱, 수직반사형 PSA 타원법을 이용한 미소면적 광학이방성 측정장치 , 한국광학회 2012년도 동계학술발표회 , pp.292 -293 (Feb, 2012)
  • [학술회의] 김상열, 윤희규, 박상욱, 염경훈, 투과형 타원계를 사용한 LCD 배향막의 기층효과와 러빙 세기에 따른 미소 광학이방성 변화 정밀측정 , 한국광학회 2011년도 하계학술발표회 , pp.250 -251 (Jul, 2011)
  • [학술회의] 김상열, 이민호, 이강용, 양성모, 박상욱, In-line용 편광계를 사용한 LCD 배향막의 미소 광학이방성 정밀 측정 , 한국광학회 2011년도 동계학술발표회 , pp.70 -71 (Feb, 2011)
  • [학술회의] 김상열, 김하랑, 수직 반사형 타원계를 이용한 이방성 시료의 광학적 특성평가 , 한국광학회 하계학술발표회 , pp.232 -233 (Jul, 2010)
  • [학술회의] 김상열, 김용기, 류장위, 시야각 개선필름의 광축 분포 결정 , 한국광학회 하계학술발표회 , pp.236 -237 (Jul, 2010)
  • [학술회의] 김상열, 김용기, 류장위, 비균일 단축 이방성 매질을 투과하는 빛의 새로운 편광상태 해석법 , 한국광학회 하계학술발표회 , pp.292 -293 (Jul, 2010)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 김용기, 투과광의 편광특성 분석을 통한 접합된 광학이방성판의 광학적 특성분석 , 한국광학회 창립20주년 기념특별학술발표회 , pp.21 -21 (Oct, 2009)
  • [학술회의] 김상열, 김하랑, 패턴이 있는 유리기층 위 러빙된 Pl의 광학 이방성 미세변화 정밀 측정 , 한국광학회 창립20주년 기념특별학술발표회 , pp.14 -14 (Oct, 2009)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 광축이 나란하게 중첩된 광학이방성 막의 유효 광축 및 등가 리타데이션 , 한국광학회 창립20주년 기념특별학술발표회 , pp.14 -14 (Oct, 2009)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 신유식, 김용기, Precise Measurement of Very Low Retardation by Using Transmission Ellipsometry , Proc. of 11th KLCC , pp.21 -21 (Jan, 2009)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 신유식, 김용기, Study on Optical Anisotropy and Its Non-Uniformity of Wide View Film , Proc. of 11th KLCC , pp.133 -136 (Jan, 2009)
  • [학술회의] 김상열, 조용재, 박상욱, 조현모, 심우영, 최중규, 이광, 제갈원, 타원법을 이용한 인간 줄기세포의 광학적 특성과 미세구조 연구 , 한국광학회 2008년도 하계학술발표회 , pp.149 -150 (Jul, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 신유식, 변영섭, 김용기, 류장위, 미세위상지연 정밀 측정을 사용한 LCD 배향막의 배향특성 결정 , 한국광학회 2008년도 하계학술발표회 , pp.453 -454 (Jul, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 최중규, 변영섭, 신유식, 김용기, 류장위, 러빙세기에 따른 LCD 배향막의 광학이방성 변화 정밀측정 , 한국광학회 2008년도 하계학술발표회 , pp.351 -352 (Jul, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 최중규, 신유식, 이재흔, 김상준, 변영섭, 타원법을 사용한 LCD 배향막의 배향축 및 광학이방성 정밀 측정 , 한국광학회 2008년도 동계학술대회 , pp.385 -386 (Feb, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 신유식, 류장위, 안성혁, 김용기, 이방성 매질을 투과한 빛의 편광상태 분석을 위한 확장된 존스 행렬식의 엄밀한 수치해석 , 한국광학회 2008년도 동계학술대회 , pp.259 -260 (Feb, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 서 훈, 최중규, 변영섭, 신유식, 박상욱, 류장위, 분광타원법을 이용한 ZnS-SiO2 박막의 산소유량에 따른 광학물성 변화 연구 , 한국광학회 2008년도 동계학술대회 , pp.167 -168 (Feb, 2008)
  • [학술회의] 김상열, 이재흔, 최중규, 변영섭, 편광법을 사용한 LCD 배향막의 광학이방성 정밀측정에 관한 연구 , 한국광학회 2007년도 동계학술발표회 , pp.263 -264 (Feb, 2007)
  • [학술회의] 김상열, 심경수, 변영섭, 최중규, 김수경, 리학철, PRAM Static Tester와 분광타원계를 이용한 광기록매체의 광학특성 구 , 한국광학회 2007년도 동계학술발표회 , pp.175 -176 (Feb, 2007)
  • [학술회의] 김상열, 편광법을 이용한 LCD 패널용 광학필름의 특성분석 , 한국광학회 2006년도 하계학술발표회 , pp.333 -334 (Jul, 2006)
  • [학술회의] 김상열, 박정훈, 강남준, 오수기, 리학철, RF magnetron sputtering 방법을 이용한 PtOx 박막의 증착과정에서 OES를 이용한 플라즈마 진단 , 한국물리학회 2006년도 봄 학술논문발표회 (Apr, 2006)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 안성혁, 타원법을 이용한 정밀측정기술 , Precesion Metrology Symposium 2006 , pp.23 -24 (Feb, 2006)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 강윤선, 강윤호, 김연화, 노진서, 서동석, 신웅철, 이은혜, 안성혁, 김기준, TRE를 이용한 고속 전기적 펄스에 의한 GST의 상변화 분석 , 한국광학회 2006년도 동계학술발표회 , pp.291 -292 (Feb, 2006)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 조영욱, 안성혁, 편광법을 이용한 LCD 편광판과 보상판의 광축 정렬오차 측정 , 한국광학회 2005년도 하계학술발표회 , Vol.1 , No.1 , pp.286 -287 (Jul, 2005)
  • [학술회의] 김상열, In situ ellipsometric investigation of optical properties of super-RENS materials at high temperatures , 2005년 워크샵 (Feb, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 이학철, 김상준, 김창일, 안성혁, 오수기, 분광타원법을 이용한 PtOx 박막의 온도변화에 따른 분해과정과 구조변화에 대한 연구 , 한국광학회 2005년도 동계학술발표회 , Vol.1 , No.1 , pp.76 -77 (Feb, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 이학철, 김창일, 안성혁, 오수기, In situ 타원법을 이용한 PtOx 박막의 온도 및 산소조성비의 변화에 관한 연구 , 2005년도 동계학술발표회 , pp.78 -79 (Feb, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 이학철, 김연화, 김창일, 안성혁, 오수기, In situ 타원법을 이용한 PtOx박막의 온도에 따른 광물성 변화 , 2005년도 동계학술발표회 , pp.74 -75 (Feb, 2005)
  • [학술회의] 김상열, 리학철, 김창일, 안성혁, 오수기, 타원법을 사용한 PtOx 박막의 온도변화에 따른 광특성 조사 , 한국광학회 2004년도 하계학술발표회 , pp.228 -229 (Jul, 2004)
  • [학술회의] 김상열, 이영구, 신상균, 분광타원법을 이용한 유기발광 2-TNATA의 광학상수 결정 , 한국광학회 2004년도 하계학술발표회 , pp.226 -227 (Jul, 2004)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 제갈원, 조용재, 김현종, 이윤우, 진공자외선 분광타원법을 이용한 이산화티타늄 박막의 복소굴절률 및 두께 결정 , 한국광학회 2004년도 하계학술발표회 , pp.276 -277 (Jul, 2004)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 제갈원, 조용재, 김현종, 이윤우, 진공자외선 분광타원법을 이용한 이산화티타늄 박막의 복소유전율 및 두께 결정 , 한국광학회 2004년도 동계학술발표회 , pp.216 -217 (Feb, 2004)
  • [학술회의] 김상열, 김영근, 신상균, 김상준, 박병용, 2파장 타원계의 개발 및 박막두께 정밀 측정 , 한국광학회 2004년도 동계학술발표회 , pp.218 -219 (Feb, 2004)
  • [학술회의] 김상열, Shan Fukai, 김성철, 유윤식, Characterization of ZnO:Ga thin films on sapphire by spectroscopic ellipsometer , 한국물리학회 가을학술논문발표회 , Vol.21 , No.2 , pp.570 -570 (Oct, 2003)
  • [학술회의] 김상열, Shan Fukai, 김성철, 유윤식, Spectroscopic ellipsometer analysis of Al doped ZnO films deposited by PLD , 한국물리학회 가을학술논문발표회 , Vol.21 , No.2 , pp.569 -569 (Oct, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 이학철, 김상준, 타원법을 이용한 Super-Rens 용 AgOx mask 층의 광물성 연구 , 한국광학회 2003년도 하계학술발표회 , pp.36 -37 (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 신상균, 유윤식, 분광타원법을 이용한 ZnO:Ga 박막의 광학상수 및 두께 결정 , 한국광학회 2003년 하계학술발표회 , pp.38 -39 (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 신상균, 최용규, 김상준, 박봉제, 서홍석, 분광타원법을 이용한 Ge-Sb-Ga-Se 계열 셀레나이드 유리의 광학상수 결정 , 한국광학회 2003년도 하계학술발표회 , pp.34 -35 (Jul, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 상변화 광기록매체의 광학적 분석 , 2003년도 춘계학술대회 , pp.141 -141 (Apr, 2003)
  • [학술회의] 김상열, 리학철, In situ 타원법을 사용한 광기록매체용 GeSbTe 박막의 최적성장조건 연구 , 한국광학회 2003년도 동계학술발표회 , pp.78 -79 (Feb, 2003)
  • [학술회의] 김상열, B.I.Kim, W.S.Choi, F.K.Shan, H.S.Lim, S.C.Kim, Y.S.Yu, D.S.Kim, Crystallization of Al doped ZnO Thin Films Prepared by Pulsed Laser Deposition , 한국물리학회 50주년기념 학술발표회 , pp.373 -373 (Oct, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 분광타원법을 이용한 Indium Tin Oxide의 광학상수 결정 , 한국물리학회 학술발표회 , Vol.20 , No.2 , pp.500 -500 (Oct, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 김상준, 안성혁, GeSbTe 비정질 박막의 빠른 결정화를 위한 비등온 환경에서의 타원법 전산시늉 , 한국물리학회 학술발표회 , Vol.20 , No.2 , pp.350 -350 (Oct, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 김현종, 조용재, Study on gate dielectircs on crystalline silicon using vacuum ultraviolet spectroscopic ellipsometry , International Symposium on Nano Science & Technology (Oct, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 안성혁, 광기록 매체용 GeSbTe 박막의 새로운 결정화 운동학 , 한국물리학회 , Vol.20 , No.2 , pp.350 -350 (Oct, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 분광타원법을 이용한 OLED의 광학적 성질연구 , 한국물리학회 학술발표회 , Vol.20 , No.2 , pp.500 -500 (Oct, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 김상준, 안성혁, 고용량 광기록 매체용 Ge-Sb-Te 다층박막의 광학적 특성 및 열전달 동특성 , 한국물리학회 2002년 봄학회 , Vol.20 , No.1 , pp.179 -179 (Apr, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조현모, 이윤우, 조용재, Spectroscopic Ellipsometry를 이용한 5nm 이하 Silicon Oxynitride 초박막 분석 , 한국물리학회 2002년 봄학회 , Vol.20 , No.1 , pp.199 -199 (Apr, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 김종혁, 이학철, 김상준, In-situ Ellipsometer 를 사용한 광기록 매체용 Ge-Sb-Te 다층박막성장의 실시간 제어 , 한국광학회 2002년도 동계학술대회 , pp.196 -197 (Feb, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 이학철, 김상준, 곽금철, 서훈, 두께와 조성비에 따른 GexSbyTez(GST)의 복소굴절률 변화 , 한국광학회 2002년 동계학술발표회 , pp.200 -201 (Feb, 2002)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 김도형, 안성혁, 상변화형 광디스크에서의 열전달 특성 전산시늉 , 한국광학회 2001년도 하계학술발표회 , pp.72 -73 (Aug, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 류장위, 분광타원법을 이용한 이방성 물질의 광학상수 결정 , 한국광학회 2001년도 하계학술발표회 , pp.46 -47 (Aug, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 안성혁, Levenberg-Marquardt 방법을 이용한 지진파 진원지 추적 , 한국물리학회 제77회 정기총회 , Vol.19 , No.1 , pp.121 -121 (Apr, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 유재수, 안준성, 이용탁, 김상준, PECVD 법의 증착변수에 따른 SiOx 및 SixNy 박막의 특성:가변입사각 분광타원법을 이용한 굴절률 및 두께 결정 , 한국물리학회 제77회 정기총회 , Vol.19 , No.1 , pp.205 -205 (Apr, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 정혜인, 류장위, 김동현, 분광타원법을 이용한 다층 유기발광박막의 복소굴절율 및 구조 분석 , 한국고분자학회 정기 논문발표회 , Vol.26 , No.1 , pp.71 -71 (Apr, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 김동현, 정혜인, 류장위, 가변입사각 분광타원법을 이용한 유기 발광 박막의 광학 상수 및 두께 결정 , 한국광학회 2001년도 동계학술발표회 , pp.264 -265 (Mar, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, DOAP를 이용한 초고속 타원계의 개발 , 한국광학회 2001년도 동계학술발표회 , pp.260 -261 (Feb, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 정혜인, 류장위, 김동현, 가변입사각 분광타원법을 이용한 유기 발광박막의 광학상수및 두께 결정 , 한국광학회 2001년도 학술발표회 , pp.264 -265 (Feb, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 김상준, 안성혁, 고용량 Rewritable DVD 디스크에서의 열전달 특성분석 , 한국광학회 2001년도 동계학술대회 , pp.210 -211 (Feb, 2001)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조현모, 이윤우, 이인원, 가변입사각 분광타원법을 이용한 Chromiun Oxide 박막의 굴절율 및 소광계수 결정 , 한국물리학회 학술발표회 , Vol.18 , No.2 , pp.496 -496 (Oct, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 안성혁, 광정보저장 매체용 Ge2Sb2Te5 박막의 열전달특성 전산모사 , 한국물리학회 정기총회 , Vol.18 , No.2 , pp.495 -495 (Oct, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 이인원, 김현종, 이윤우, 가변입사각 분광타원법을 이용한 Chromium Oxide 박막의 굴절율 및 소광계수 결정 , 정기총회 , Vol.18 , No.2 , pp.496 (Oct, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 김도형, 안성혁, 광정보저장 매체용 Ge2Sb2Te5 박막의 열 전달 특성 전산모사 , 정기총회 , Vol.18 , No.2 , pp.495 (Oct, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조현모, 이윤우, 조용재, s-wave 무반사조건을 이용한 Si3N4 박막과 c-Si 계면사이의 계면층 결정 , 한국광학회 2000년도 동계학술발표회 , pp.172 -173 (Feb, 2000)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조현모, 이윤우, 조용재, 분광타원해석법을 이용한 질화규소박막의 복소유전율 결정 , 한국물리학회 논문초록집 , Vol.17 , No.2 , pp.467 -468- (Oct, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조현모, 이윤우, 조용재, 비정질실리콘 박막의 광학적 특성 및 구조 , 제16회 광학 및 양자전자 학술발표회 , pp.136 (Jul, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 방현용, 보급형 He-Ne 타원해석기의 제작과 TiO2 박막 유효밀도 변화의 in situ 측정 , 한국진공학회 제17회 학술발표회 , pp.101 (Jul, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 분광타원법을 사용한 박막의 광학상수 결정 , 제9회 광기술분과 워크샵 , pp.25 -41 (Mar, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 첨단 위상 기록 광디스크의 설계 및 특성조사 , 제14회 파동 및 레이저 학술대회 , Vol.14 , pp.26 -27 (Feb, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 조현모, 조용재, 이윤우, 이인원, 타원해석법을 이용한 고밀도 반도체 소자의 박막두께 평가 , 제14회 파동 및 레이저 학술대회 , Vol.14 , pp.124 -125 (Feb, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 전종택, 원영희, 이석현, 타원해석법을 이용한 비등방성 고분자박막의 복소굴절률 결정 및 배향효과의 정량화 , 제14회 파동 및 레이저 학술발표회 , Vol.14 , pp.120 -121 (Feb, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 분광타원해석기 입사각의 정밀보정 , 제14회 파동 및 레이저 학술대회 , Vol.14 , pp.28 -29 (Feb, 1999)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 조용재, 이윤우, 이인원, 비정질 실리콘 박막에 대한 타원해석함수의 투과도 , 제15회 광학 및 양자전자학 학술대회 , Vol.15 , pp.14 -15 (Aug, 1998)
  • [학술회의] 김상열, 김상준, 서 훈, 정태희, 김명룡, 박정우, In-situ 타원해석법을 사용한 Ge2Sb2Te5의 상변화 측정 , 제15회 광학 및 양자전자학 학술대회 , Vol.15 , pp.18 -19 (Aug, 1998)
  • [학술회의] 김상열, 이석현, 전종택, 김상준, 방현용, 원영희, 길현옥, Corona 극성배향에 의한 비선형 고분자박막의 복소굴절율 변화 및 배향효과의 정량화 , 제13회 파동 및 레이저 학술대회 (Feb, 1998)
  • [학술회의] 김상열, 방현용, 고속분광타원해석기를 사용한 양극산화 이산화규소 박막성장의 in situ 실시간 측정 , 제13회 파동 및 레이저 학술발표회 (Feb, 1998)
  • [학술회의] 김상열, 정태희, 박정우, 서훈, 김명룡, 김상준, Sb 첨가에 따른 Ge2Sb2Te5의 복소굴절율의 변화 , 제13회 파동 및 레이저 학술발표회 (Feb, 1998)
  • [학술회의] 김상열, 방현용, OMA를 이용한 고속분광타원해석기의 제작 , 제13회 파동및 레이저 학술대회 (Feb, 1998)
  • [학술회의] 김상열, Ellipsometry에 의한 박막특성평가 기술개발 , 제5회 전자재료 평가기술 WORKSHOP (Sep, 1997)
  • [학술회의] 김상열, 방현용, 조용재, 조현모, 이윤우, 이인원, s-파 무반사조건을 사용한 실리콘과 이산화규소의 계면구조 결정 , 제14회 광학 및 양자전자 학술발표회 , pp.15 -15 (Aug, 1997)
  • [학술회의] 김상열, 분광타원해석법을 이용한 계면 및 박막의 광학상수 결정 , 제14회 광학 및 양자전자 학술발표회 , pp.13 -13 (Aug, 1997)
  • [학술회의] 김상열, 방현용, 조용재, 조현모, 이윤우, 이인원, 초정밀 타원해석기 개발 , 제14회 광학 및 양자전자 학술발표회 , pp.14 -14 (Aug, 1997)
  • [학술회의] 김상열, 이석현, 전종택, 김상준, 방현용, 원영희, 길현옥, 타원해석법을 사용한 고분자 박막의 두께 및 복소굴절율 결정 , 제14회 광학 및 양자전자 학술발표회 , pp.16 -16 (Aug, 1997)
  • [학술회의] 김상열, 정태희, 서훈, 김상준, 박정우, 분광타원해석법을 이용한 Ge2Sb2Te5의 복소굴절율 결정 , 제14회 광학 및 양자전자 학술회의 , pp.17 -17 (Aug, 1997)
  • [학술회의] 김상열, 방현용, 김현종, 가변입사각 타원해석법을 사용한 유리기판위의 이산화 규소 박막의 굴절율 및 두계 결정 , 제13회 광학 및 양자전자학 학술발표회 (Oct, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 문상영, 선정우, 이상길, 조현모, 이인원, 정호균, 조용재, 이윤우, Determination of Optical Properties of Silicon-Dioxide Films on Silicon by the Method of Ellipsometry , 한국물리학회보 , Vol.14 , No.2 , pp.366 (Oct, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 정상섭, In-situ 타원해석법을 이용한 온도 변화에 따른 TiO2 박막의 굴절율 및 조밀도 변화 , 한국물리학회보 , Vol.14 , No.2 , pp.366 (Oct, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 김현종, 김민수, Anodic Oxidation of Si Surface in aqueous Solution and Ethylenglycol Solution , 대한화학회 제78회 연회 및 추계총회 , pp.428 (Oct, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 방현용, 김현종, 광학적 방법에 의한 이산화 티타늄 박막의 굴절율, 소광계수 결정 및 증착방법에 따른 조밀도 변화 , 제13회 광학 및 양자전자학 학술발표회 (Oct, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 김성화, 김상준, 이성영, 이상현, 광학적 방법을 이용한 DLC박막의 복소굴절율 결정 , 제12회 파동 및 레이저학술발표회 논문요약집 , pp.31 (Feb, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 광학적 방법을 사용한 이산화티타늄 박막의 굴절율, 소광계수및 밀도분포의 측정 , 제11회 파동 및 레이저 학술발표회 논문요약집 , No.11 , pp.69 -69 (Feb, 1996)
  • [학술회의] 이현곤, 김상열, 편광측정방법을 사용한 Kerr자기광학효과 측정 , 제11회 파동 및 레이저 학술발표회 논문요약집 , No.11 , pp.70 -70 (Feb, 1996)
  • [학술회의] 김상열, 박성진, 박병훈, RF 스퍼터링으로 제작된 TiO2박막의 열처리 효과 분석 , 한국물리학회 회보 초록집 , Vol.13 , No.2 , pp.356 -356 (Oct, 1995)
  • [학술회의] 신성철, 유천열, 김상열, 스퍼터링 Ar가스 압력의 변화에 따른 Co/Pt 다층박막의 자기광학적 및 광학적 빛띠의 변화 , 한국물리학회 회보 초록집 , Vol.13 , No.2 , pp.310 -310 (Oct, 1995)
  • [학술회의] 김상열, 박광자, 한석윤, 신성호, 박정일, 분광타원해석기를 이용한 MWCVD 다이아몬드 박막연구 , 한국물리학회 회보 초록집 , Vol.13 , No.2 , pp.355 -355 (Oct, 1995)
  • [학술회의] 김상열, 홍준기, 이동영, 박병훈, 실시간 타원해석법을 이용한 Au박막의 성장연구 , 한국진공학회 제9회 학술발표회및 제2회 한.중ion-beam심포지움 (Aug, 1995)
  • [학술회의] 김상열, in-situ타원해석법의 응용 , 제12회 광학 및 양자전자학 워크샵 논문집 , No.12 , pp.75 -83 (Aug, 1995)
  • [학술회의] 김상열, 유천열, 신성철, 확장된 유효유전율텐서를 이용한 자성박막의 미세구조 변화에 따르는 자기광학적 및 광학적 빛띠의 변화 , 한국자기회 1995년도 추계논문발표회 논문개요집 (Mar, 1995)
  • [학술회의] 박병훈, 김상열, Evaluation of growth temperature and film parameters by in-situ ellipsometer , 한국진공학회 제 8회 논문발표회 , No.8 , pp.53 -54 (Feb, 1995)
  • [학술회의] 김상열, 신용환, 구교근, 광학 다채널분석기를 사용한 고속 분광타원해석기의 제작과 in-situ 실시간 박막성장분석 , 제10회 파동 및 레이저학술발표회 논문요약집 , No.10 , pp.9 -9 (Feb, 1995)
  • [학술회의] 김상열, in-situ 타원해석기를 사용한 초기단계 박막성장의 실시간 측정 및 분석 , 제2회 한국반도체 학술대회 논문집 , No.2 , pp.55 -56 (Feb, 1995)
  • [학술회의] 김상열, 신용환, 구교근, OMA를 이용한 고속 분광타원해석기의 제작과 H-terminated Si(111)의 in-situ, real time분석 , 한국물리학회 회보초록집` , Vol.12 , No.2 , pp.383 -383 (Oct, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 신용환, 구교근, H-terminated Si(III) 표면층의 형성과 분광타원해석법을 통한분석 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.12 , No.2 , pp.384 -384 (Oct, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 장성우, 이동녕, 박병훈, RF 스퍼터링으로 제작한 ZnS 박막의 광학적 특성 및 역방계산 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.12 , No.2 , pp.271 -271 (Oct, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 장성우, 구교근, DC sputtering으로 제작된 Au 박막의 광학적 성질 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.12 , No.2 , pp.69 -69 (Apr, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 장성우, 이동녕, 구교근, 분광타원해석법을 이용한 Au박막의 분석 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.12 , No.2 , pp.268 -268 (Apr, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 홍준기, 장성우, 이동녕, In-situ 타원해석상수 역방계산을 위한 성장초기의 Au박막의 광학상수와 두께의 결정 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.12 , No.2 , pp.268 -268 (Apr, 1994)
  • [학술회의] 김상열, E.A.Irene, Error in Determining n, d of ultra-thin SiO2 on c-Si using a rotating analyzer ellipsometer , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.12 , No.1 , pp.131 -131 (Apr, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 신용환, OMA를 사용한 고속분광타원해석기의 제작과 in-situ박막성장분석 , 한국진공학회 제8회 학술발표회 논문개요집 , No.8 , pp.80 -81 (Mar, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 용정수, 박광범, 스퍼터링 챔버에 설치한 in-situ타원해석기의 성능 평가 , 한국진공학회 제6회 학술발표회 논문개요집 , No.6 , pp.31 -33 (Feb, 1994)
  • [학술회의] 김상열, 안희정, 이창희, 조기현, 분광타원해석법에 의한 이온주입된 실리콘의 분석 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.11 , No.2 , pp.423 -423 (Oct, 1993)
  • [학술회의] 김상열, 이창희, 안희정, 조기현, 분광타원해석법에 의한 이온주입된 실리콘의 열처리효과 연구 , 한국물리학회초록집 , Vol.11 , No.2 , pp.424 -424 (Jul, 1993)
  • [학술회의] 김상열, 용정수, 박광범, 이현곤, RF 스퍼터링으로 제작한 ZnS 박막의 분광타원 해석 , 한국진공학회 제5회 학술발표회 논문개요집 , No.5 , pp.63 -64 (Jul, 1993)
  • [학술회의] 김상열, D.H.Kim, J.G.Yoon, Characterization of Sol-Gel Derived Ferroelectric LiNbO3 Thin Film , Bulletin of Korean Physical Society , Vol.11 , No.1 , pp.157 -157 (Apr, 1993)
  • [학술회의] 김상열, 신용환, 박광범, SiO2 박막성장을 이용한 in-situ ellipsometer의 성능평가 , 한국물리학회 회보초록집 , Vol.11 , No.2 , pp.379 -379 (Apr, 1993)
  • [학술회의] 김상열, 박광범, 이현곤, RF 스퍼터링으로 제작된 ZnS박막의 분광타원해석 , 한국물리학회 회보초록집 , No.66 , pp.89 -89 (Apr, 1993)
저서 및 번역
  • [저서] 조두진, 김기홍, 김상열, 김영태, 송용진, 신희균, 안성혁, 원영희, 이상민, 이순일, 고승국, 곽중훈, 김경식, 김범준, 김성수, 김진배, 박용환, 박종원, 송승기, 송인걸, 신재수, 안성준, 안승준, 이광세, 이민수, 이성태, 이영희, 이종규, 전동렬, 정윤근, 주관식, 천명기, 천병수, 최광호, 최덕, 최은정, 최제영, 오수기, 고근하, 물리학 (Feb, 2005)
  • [저서] 김상열, 중급물리학실험 (Feb, 2003)
  • [저서] 김상열, 타원법 (Sep, 2000)
  • [저서] 김상열, 안성혁, 물리학의 이해 (Feb, 1999)
  • [저서] 김상열, 이호성, 백운식, 한국광학회 회원명부 (Dec, 1998)
  • [저서] 고근하, 김기홍, 김상열, 김영태, 송용진, 외 다수, 안성혁, 오수기, 원영희, 이순일, 조두진, 신희균, 대학물리학(University Physics) (Feb, 1998)
  • [저서] 김상열, Proceeding of International Workshop on Spectroscopic Ellipsometry '96 (Jan, 1996)
  • [저서] 김상열, 김기홍, 김영태, 박종석, 조두진, 신동석, 안성혁, 오수기, 송영진, 일반물리학 (Mar, 1995)
특허 및 기타
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